Составляющей погрешности

рения {?/}. По результатам каждого конкретного измерения U принимаются решения: о номере режима S*,-, i=l, /, о номере действующей гауссовской составляющей плотности вероятности обобщенного технологического фактора <7*(), nt= \, Nt,o номере действующей гауссовской составляющей плотности вероятности поля помех <7^(0>, W0= I, W0. Поэтому наряду с принятием решения

С учетом дырочной составляющей плотности тока, проходящего в полупроводнике, для электрической проводимости (удельной) полупроводника получим

~нак минус у диффузионной составляющей плотности тока дырок указывает на то, что направление диффузионного тока противоположно градиенту их концентрации. Заменив в (2.26), (2.27) потоки Jn и Jp плотностями тока, получим уравнения непрерывности в виде

Ограничимся приближением для слабого магнитного поля гц,рВ<с1. Условия (2.40) означают, что электрическое поле в образце безвихревое, поток носителей заряда постоянен и объемный заряд отсутствует. Вычислив rot rot=j, получим Aj=0. Таким образом, задача нахождения / сводится к решению уравнения Лапласа Aj = 0; применительно к составляющей плотности тока вдоль оси у

. С учетом дырочной составляющей плотности тока, проходящего в полупроводнике, для электрической проводимости (удельной) полупроводника получим

Знак "-" у диффузионной составляющей плотности тока дырок указывает на то, что направление диффузионного тока противоположно градиенту ах концентрации.

Постоянная D3 =f= 0 только при наличии постоянной составляющей плотности тока, т. е. при Jo =f= 0.

С целью определения составляющей плотности макротока Jх, направленной по оси х, рассмотрим элементарные объемы ДУ^ ДУ2, ДУ3, ДУ^ в виде параллелепипедов, примыкающих к точке х, у, г ( П.1). Грани этих параллелепипедов в плоскости у, г имеют размеры Д(/- Дг. Центры граней (1,2,3 4) смещены относительно точки х, у, г на малые расстояния ±Ду/2 и ±Дг/2.

Здесь а — угол наклона прямой, представляющей собой перестроенную па 1-30, д в полулогарифмическом масштабе кривую электронного тока на зонд. Для того чтобы найти эту составляющую тока из участка // зондовой характеристики, алгебраически отнимают значения ионной составляющей плотности тока, находимые путем линейной экстраполяции вправо участка / зондовой характеристики. В соответствии с (1-117) температура Те находится по тангенсу угла наклона полулогарифмической зондовой характеристики.

Увеличение падения напряжения АС7К с ростом плотности тока вызывается необходимостью повышения энергии ионов, бомбардирующих катод, с тем чтобы получить более высокие значения коэффициента ионно-электронной эмиссии у и тем самым обеспечить рост электронной составляющей плотности тока из катода. Одновременно повышается и ионная составляющая тока, так как электроны, обладающие более высокой энергией, производят в катодной части разряда более! интенсивную ионизацию атомов газа. Это и приводит к повышению числа генерируемых здесь ионов.

Значение динамической составляющей плотности обратного тока пропорционально скорости нарастания толщины ионной оболочки во времени d&ldt. Поэтому полная плотность обратного тока равна:

Из экспериментальных методов вследствие своей простоты чаще других для определения коэффициентов влияния применяется метод малых приращений. Он основан на линейности исходного уравнения (10.35) погрешности выходного параметра и вытекающем отсюда принципе независимости действия погрешностей. Это позволяет анализировать действие каждой составляющей погрешности отдельно, полагая остальные погрешности равными нулю. Уравнение (10.35) в этом случае принимает вид

Инструментальная погрешность в свою очередь состоит из основной (До) и суммарной дополнительной (Ад) погрешностей средства измерений .(СИ), а также динамической составляющей погрешности измерений (Адин) и погрешности взаимодействия СИ с объектом измерения (AB3). Наконец, Ад сама состоит из ряда слагаемых (Адь Дд2...Дд«), обусловленных разными влияющими величинами ь ?2, ••-. «-

Методы коррекции статических погрешностей. На практике наиболее часто встречаются с задачей коррекции аддитивной и мультипликативной составляющих систематической погрешности ИП. Коррекция аддитивной составляющей погрешности ИП осуществляется следующим образом. Вход ИП отключается от источника входного сигнала и замыкается накоротко или на резистор с определенным сопротивлением. Это соответствует подаче на вход ИП тестового сигнала нулевого уровня. Если в ИП имеется источник аддитивной погрешности, то выходной сигнал ИП отклонится от нулевого уровня. При ручной коррекции на второй вход ИП подается корректирующий сигнал, приводящий выходной сигнал ИП к нулевому уровню. При автоматической коррекции выходной сигнал ИП запоминается на специальном запоминающем элементе и в дальнейшем используется в качестве корректирующего.

Переключатель SA4 имеет положения 2 и 3 для коррекции аддитивной и мультипликативной составляющих погрешности ЦВ. В случае коррекции аддитивной составляющей погрешности SA4 переводится в позицию 2, при этом на левый вход СУ подается сигнал, соответствующий нулевому уровню. Если в схеме имеется источник аддитивной погрешности, то на отсчетном устройстве ЦВ появится число, отличное от нуля. Плавной регу-

лировкой напряжения на выходе РДН посредством специального резистора добиваются нулевого показания на отсчетном устройстве ЦВ. На этом регулировка заканчивается. При коррекции мультипликативной составляющей погрешности переключатель SA4 переводится в позицию 3 и ко входу СУ подключается нормальный элемент с ЭДС, равной 1,0186 В. Очевидно, что показание ЦВ должно соответствовать этому значению напряжения, в противном случае регулируется выходное напряжение ИОН до получения указанного соответствия. Поскольку ИОН выдает напряжение U0 двух полярностей, то коррекция производится как при положительном, так и при отрицательном значении U0. Ручки управления резисторами коррекции аддитивной и мультипликативной погрешностей выносятся на лицевую панель прибора.

При постоянном и стабильном значении Т0 код N прямо пропорционален fx. Точность измерения частоты fx зависит от точности задания интервала То. Современные цифровые частотомеры в качестве датчика интервала времени содержат высокочастотный генератор, снабженный делителем частоты, на выходе которого и получают импульсы с периодом Т0. Стабильность частоты кварцевых генераторов очень высока —• изменение частоты после ее подстройки не превышает 10~5 % за 10 дней, поэтому цифровые частотомеры позволяют измерять частоту и связанные с ней величины с очень высокой точностью, а отсчетные устройства частотомеров содержат до семи декад. Однако изменение частоты кварцевого генератора — не единственный источник погрешности цифрового частотомера. Другой составляющей погрешности является дискретность преобразования интервала времени Т0 в код N. Эта погрешность проявляется в том, что при одних и тех же значениях Т0 и N значение fx может быть разным и находиться в некоторых пределах: на 9.17, а

(п — число измерительных экспериментов) — систематическая погрешность, определение которое не только дает информацию о постоянной составляющей погрешности, но и создает предпосылки 1ля ее устранения (коррекции ).

Рассмотрим этот способ на примере уменьшения погрешности, вызванной изменением некоторой влияющей величины . Пусть изменение этой величины вызывает появление погрешности преобразования Д с математическим ожиданием М [Д. и дисперсией D [А]. Рассмотрим процесс компенсации случайной составляющей погрешности А, поскольку компенсацию систематической погрешности этим способом можно рассматривать как частный случай компенсации случайной погрешности, В соответствии с этим способом в схему реального преобразователя включается некоторый элемент, вызывающий появление погрешности А„ (), коррелированной с погрешностью А и имеющей плотность распределения, близкую к плотности распределения по-

частотные составляющие погрешности такого СИ могут даже накапливаться, поскольку в блоке ВУ осуществляется много операций вычитания, а дисперсия разности некоррелированных величин равна сумме дисперсий слагаемых. Поэтому способ итераций находи" применение для уменьшения коррелированной составляющей погрешности тех СИ, в которых периодическое отключение входной величины и обратное преобразование выходной не вызывает трудностей. Но даже в этом случае в точных СИ может стать существенной погрешность дискретизации, которую необходимо оценивать и учитывать при использовании итеративной коррекции.

Однако здесь уместно заметить, что выделение инструментальной составляющей погрешности из общей погрешности измерения вряд ли возможно, поскольку из уравнения измерений видно, что эта задача не имеет однозначного решения, поскольку результат измерения принципиально дискретная величина.

Значение систематической составляющей погрешности Ас и