Освещаемой поверхности

Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи не соответствует нормам

Осторожно! Прочность изоляции цепи относительно корпуса не соответствует нормам (знак выполняется красным цветом)

Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи по отношению к корпусу не соответствует нормам (знак выполняется красным цветом).

Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи ЕЮ отношению к корпусу не соответствует нормам (знак выполняется красным цветом).

Осторожно! Прочность изоляции измерительной-цепи по отношению к корпусу не соответствует нормам (знак выполняется красного цвета)

Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи по отношению к корпусу не соответствует нормам (знак выполняется красным цветом)

Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи по отношению к корпусу не соответствует нормам (знак выполнен красным цветом)

90. Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи по отношению к корпусу не соответствует нормам (знак выполняется красным цветом)

Осторожно! Прочность изоляции измерительно:"! цепи не соответствует нормам

Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи по отношению к корпусу не соответствует нормам (знак выполняется красного цвета)

Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи не соответствует нормам

Осторожно! Прочность изоляции измерительной цепи по отношению к корпусу не соответствует нормам (знак выполняется красного цвета) *

Освещенность Е — это поверхностная плотность светового потока на освещаемой поверхности, т. е. отношение светового потока Ф к величине освещаемой поверхности S:

Точечный метод позволяет при наличии кривой распределения силы света светильника и при заданном расстоянии до любой точки освещаемой поверхности определить освещенность в этой точке. Так, если светильник находится в точке А ( 21.7, а), то освещенность на горизонтальной плоскости в наиболее удаленной точке В определяется формулой

Точечный метод не учитывает светового потока, отражаемого от освещаемой поверхности, поэтому он наиболее приемлем для расчета освещения при слабом отражении рабочих поверхностей (подземные дренажные выработки, конвейерные галереи, открытые горные работы).

где S — площадь освещаемой поверхности, м2.

Метод удельной мощности применяется для ориентировочных расчетов числа светильников к общей мощности осветительной установки. Под удельной мощностью W понимается отношение суммарной мощности источников света Р к площади освещаемой поверхности:

Прожектор испускает пучок лучей в виде конуса, который на освещаемой поверхности образует световое пятно эллиптической формы с большой осью CD ( 21.7, б). Освещенность (лк) в любой точке, лежащей на оси эллипса, определяют по формулам:

освещенность — световой поток, приходящийся на единицу освещаемой поверхности. Единица освещенности — люкс (лк). Освещенность определяется отношением светового потока, упавшего на поверхность, к ее площади. Освещенность поверхности будет равна 1 лк, если на каждый 1 м2 ее площади упадет световой поток в 1 лм, т.е. 1 лк — 1 лм/1 м2.

4. Устранить в помещении все источники света, кроме иссле-цуемого светильника, закрыть фотоэлемент дымчатым светофильтром, и, поддерживая, регулирующим автотрансформатором ЛАТР напряжение на зажимах лампы накаливания номинальным, измерить величину освещенности в различных точках освещаемой поверхности, располагая в них фотоэлемент люксметра.

Величины площадей 50, Sf,-",-'Sll_1 могут быть найдены планиметрированием соответствующих диаграмм распределения освещенности по отдельным направлениям, выбранным на освещаемой поверхности.

где S — величина освещаемой поверхности, м2.

где Еп и ?н — освещенности в одной и той /кс точке освещаемой поверхности соответственно при установленном и номинальном значении напряжения на зажимах лампы, лк.