Миллиамперметры амперметры

Избирательное травление и микроскопическое исследование

Микроскопическое исследование подложки вскрытого изделия

В большинстве случаев проводится дилатометрия. [3], иммерсионное взвешивание [4, 5] и электронно-микроскопическое исследование [3, 6] контрольных (исходных) и облученных образцов. На них базируются основные представления о закономерностях развития радиационного распухания. Ионная микроскопия [7] и ядерно-физические методы исследования (позитронная аннигиляция [8], малоугловое рассеяние нейтронов [10] и рентгеновских лучей [9]) дополняют их: ионная микроскопия и позитронная аннигиляция позволяют проследить за образованием, зародышей пор, начиная с нескольких вакансий, а метод малоуглового рассеяния рентгеновских лучей — определить концентраций-пор и дислокационных петель при высоком уровне радиационного-повреждения.

Вследствие малого объема поврежденного слоя, что обусловлено малой глубиной проникновения ионов, действенными методами экспериментального определения величины радиационного распухания ионно-облученных образцов являются только два: электронно-микроскопическое исследование (проводимое на глубине, соответствующей максимуму повреждения) ( 51) и определение высоты ступеньки на границе облученной и защищенной областей [15]. Для изучения распределения радиационного повреждения по глубине проникновения ионов проводят стереоэлектронно-микроско-лическое[16], послойное электронно-микроскопическое исследования

[17, электронно-микроскопическое исследование поперечного сечения облученного образца [18]. Облучение пакетов тонких (порядка 1000 А) пленок значительно упрощает изучение послойного распределения радиационного повреждения.

В случае нейтронного и ионного облучения возникают каскады смещений [46]. Электронно-микроскопическое исследование многочисленных ГЦК- и ОЦК-металлов показало, что области каскада, обогащенные вакансиями, разрушаются с образованием вакансионных петель [47, 48]. Эти петли в большинстве случаев сокращаются в процессе облучения, однако при импульсном облучении периодически существует временной интервал одновременного развития вакансионных петель и пористости, что накладывает отпечаток на развитие последней. При непрерывном нейтронном или ионном облучении на некотором этапе устанавливается характерное для данных условий облучения соотношение скоростей следующих процессов: зарождение вакансионных петель при разрушении вновь образующихся под воздействием облучения каскадов смещения; сокращение вакансионных петель, созданных ранее, из-за преференса дислокаций по отношению к межузельным атомам; зарождение и рост промежуточных дислокационных петель; зарождение и рост пор.

Электронно-микроскопическое исследование облученных металлов и сплавов, в частности никеля и сплавов Fe — Сг — № [117], установило отсутствие пор в зоне, прилегающей к границе зерна. Ширина этой зоны в зависимости от сорта бомбар-

Электронно-микроскопическое исследование образцов стали 304 и стали 304, насыщенной гелием до концентрации 20 аррт, после облучения в реакторе EBR-II при 390°С флюенсом 7,4 X 1022 н/см2 (Е > 0,1 МэВ), проведено Блумом и Стиглером [128]. Размер, концентрация пор и величина распухания для образцов без гелия имеют соответственно такие значения: < 130 А; 2,4 х 1015 см~3; 0,1%; для образцов с гелием — < 75 А, 5,2 • 1015 см~3; 0,06%.

Электронно- микроскопическое исследование на глубине 1,5— 3,7 мкм

Электронно-микроскопическое исследование области пика повреждения

Изменение направления пластической деформации монокристалла с <100> на <110> в той же кристаллографической плоскости <001> привело к тому, что монокристаллы молибдена ориентации {001} <110> оказались пластичными при прокатке, выдерживали пластическую деформацию с обжатием до 90% без растрескивания и при значительном обжатии при прокатке (80%) сохраняли первоначальную монокристалльную структуру {001} <110> [24, 39, 93, 121, 126, 135, 136, 148, 209]. Твердость, полуширина рентгеновских линий увеличиваются только на первых 10—15% деформации, хотя при дальнейшей деформации наблюдается непрекращающаяся фрагментация субструктуры [135, 136]. .Дифракционное электронно-микроскопическое исследование показало, относительно равномерное распределение IB объеме деформированного на 80% материала сплетений и клубков дислокаций [39, 148].

Микроскопическое исследование поверхности позволяет быстро выявить ее загрязнение или деформацию вследствие неправильной полировки. В таком случае травление с последующей повторной полировкой тонкими сортами абразива постепенно снимает дефектный поверхностный слой, выявляя истинную структуру образца. После некоторой практики оператор средней квалификации может изготовлять качественные образцы с поверхностью, свободной от дефектов подобного рода.

Таким способом регулируют приборы магнитоэлектрической системы, имеющие заданную (определенную) си/:у тока потребления: одно- и многопредельные микро- и миллиамперметры, амперметры и вольтметры. Когда сила тока потребления не имеет заранее заданного значения (у некоторых однопредельных милливольтметров и вольтметров), размагничивание может быть произведено непосредственно по номинальному значению предела измерения. Для этого образцовый вольтметр на схеме ( 5.25) включается параллельно регулируемому. Реостатом R по образцовому прибору устанавливают напряжение, соответствующее номинальному значению предела измерения регулируемого вольтметра. Дальше регулировка производится так же, как и размагничивание по току потребления.

Приборы представляют собой щитовые малогабаритные миллиамперметры, амперметры и вольтметры магнитоэлектрической системы с подвижной рамкой и внутрирамочным магнитом.

7. Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типов М4250, М4251, M42S4,

Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типов М4250, М4251, М4254, М4255, М4258 и М4259 предназначены для измерения постоянного тока в переносных или передвижных установках, работающих .в тяжелых услрвиях эксплуатации.

14. Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типа М262/1М

Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типа М262/1М предназначены для измерения постоянного тока и напряжения.

39. Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типа Э8003

44. Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типа М4233

Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типа М4233 предназначены для измерения тока и напряжения в сетях постоянного тока в морских условиях.

45. Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типа М4262Л

Миллиамперметры, амперметры и вольтметры типа М4262А предназначены для измерения тока и напряжения в цепях постоянного тока на щитах (панелях) переносных и передвижных установок, работающих в тяжелых условиях механических и климатических воздействий.