Контролируемого параметра

После выполнения подготовительных операций и в процессе межоперационного хранения проводится контроль пригодности деталей к пайке путем оценки паяемости. В промышленности разработано большое число методов контроля паяемости: 1) определение площади облуживания поверхности после выдержки образцов в течение заданного промежутка времени во флюсе, а затем расплавленном припое; она должна составлять не менее 95 % от контролируемой поверхности; 2) расчет коэффициента растекания jKp=Sp/So как отношение площади Sp, занимаемой навеской припоя после расплавления и растекания,

водов или оборудования .:.TVдует устана^.линать так, чтобы их рабочие части плотно пр^л'чмли к контролируемой поверхности. Для этого перед установкой поверхнос'л:.-, х термопар VOCTO соприкосновения их с трубо! юзодами и соорудоваплом тщательно

ривают колодки прижимов, под которые просовывают термопару, плотно прижимаемую к контролируемой поверхности. .

Вследствие неоднородности контролируемой поверхности и значительной погрешности производят несколько измерений Rz на различных участках и берут среднее

Наиболее распространенным прибором для определения класса чистоты поверхностей является профилометр КВ-7 ( 22). Алмазную иглу (щуп) 1, жестко связанную с индукционной катушкой 2, которая находится в магнитном поле, перемещают по контролируемой поверхности детали 3. Перемещаясь по микронеровностям поверхности детали, алмазная игла опускается во впадины и поднимается на выступы, создавая механические

На основании расчета перекрестной помехи с помощью формул (15, 16) показано, что при наличии емкостной паразитной Свяеи мекду соседними близколежащими элементами матрица величин помехи составляет (0,13-0,41) % от амплитуда полезного видеосигнала, а при индуктивной связи (0,19-0,3) 5 и существенного влияния на выявление дефектов ре оказывает, так как амплитуда полезного сигна ла на два , три порядка выше, Для проведения высокопроизводительного и достоверного контроля необходимо, чтобы магнитотелевизионный дефектоскоп был отстроен от влияния изменения зазора, что возможно при полном отсутствии зазора в случае плотного прижатия матрицы к контролируемой поверхности, или стабилизации его на рпре-деленном уровне. При намагничивании до насыщения максимальная величина зазора, при котором еще обнаруживается дефект, может составить (8-12) мм. Оптимальные границы зазоров, при

По методу погружения детали при комнатной температуре помещают в раствор на определенное время, после чего промывают н сушат На контролируемой поверхности за это время не должно быть следов коррозии (фосфатные покрытия), контактного выделения меди (оксидные покрытия}.

Рентгеновский метод является более распространенным и точным. В этом случае снимают лауэграмму и по симметрии рефлексов определяют ориентацию плоскости среза. В последние годы для этих целей созданы автоматизированные рентгеновские дифрактометры типа "Дрон" и др., у которых отраженные лучи регистрируются с помощью ионизационных счетчиков. Применяется следующая последовательность операций определения ориентации. Монокристалл устанавливают в гониометрическое устройство дифрактометра. Первичный пучок рентгеновских лучей направляют на торцевую поверхность монокристалла так, чтобы плоскость этой поверхности совпадала с осью гониометра. На практике это достигают плотным прижатием контролируемой поверхности монокристалла к базовой поверхности держателя образца. С помощью поворотного устройства гониометра монокристалл поворачивают до положения, соответствующего углу Вульфа- Брэгга (8ftfcj), который заранее определяют для интересующих кристаллографических плоскостей по формуле: Qhkl = arcsin (пХ/2сГд/), где X. - длина

Счетчик рентгеновских квантов с помощью поворотного механизма гониометра устанавливают в положение, соответствующее углу 28. Когда плоскость торцевой поверхности монокристалла совпадает с определенной кристаллографической плоскостью, счетчик зарегистрирует отражение рентгеновских лучей максимальной интенсивности. При отклонении плоскости контролируемой поверхности от заданной кристаллографической плоскости максимум отражения придется на другое положение монокристалла относительно падающего рентгеновского луча. Определим это положение углом Т1} который отличается от угла 8hfc;. При повороте монокристалла вокруг его оси максимум отра-. жения будет соответствовать другому углу v2. Разность углов уг и "У2 является мерой отклонения контролируемой плоскости монокристалла

Men>f'fd нанесения сетки царапин. На поверхность контролируемого покрытия стальным острием наносят четыре—шесть параллельных линий глубиной до основного металла, на расстоянии 2,0—3,0 мм одна от другой, и четыре—шесть параллельных .пиний, перпендикулярных первым. На контролируемой поверхности покрытмя не должно наблюдаться отслаивания покрытий.

кусную, хромовую н др. Скорое,ь полироания 20—30 м с. После полирования на контролируемой поверхности не должно наблюдаться li.v.vniq пли отслаивание покрытия.

При контроле по количественному признаку с некоторой точностью определяется численное значение контролируемого параметра. Значение контролируемого параметра зависит от целого ряда факторов как детерминированных, так и случайных. На основании результатов контроля возможна коррекция систематических отклонений от нормы путем регулировки ТП. После статистической обработки результатов измерения непрерывной случайной величины можно определить ее закон распределения. В случае нормального закона распределения достаточными характеристиками будут математическое ожидание и дисперсия. Количественные признаки могут быть как непрерывными, так и дискретными, случайными величинами.

Р(х)—вероятность прохождения изделия с параметром х операции контроля, описываемой функцией f(y); х„,1пту, -Хтахту — соответственно минимальное и максимальное значения контролируемого параметра, допустимые техническими условиями; fBxM» /вых(я)—входная и выходная плотности распределения контролируемого параметра соответственно.

Автоматизированная система управления ТП представляет собой систему, строящуюся в соответствии с законами и правилами теории автоматического управления. Входом системы является значение контролируемого параметра, выходом — положение (или состояние) исполнительного механизма. В общем случае испол-

23. ГОСТ 20736—75. Качество продукции. Статистический приемочный контроль по количественному признаку при нормальном распределении контролируемого параметра.

В каждом конкретном случае выбор метода контроля осуществляют с учетом контролируемого параметра, информативности, оперативности и стоимости контроля. Выбор вида контроля также зависит от конкретных условий, определяемых масштабами производства и сложностью выпускаемых ИМС.

При выборе вида контролируемого параметра необходимо также удовлетворить требование достаточно малого времени срабатывания УРЗ, например с точки зрения сохранения динамической устойчивости энергосистемы или из других условий (см. § 1.3). Здесь также иногда приходится переходить к контролируемым параметрам, связанным с применением более сложных измерительных органов. Так, в больший-

Устройство цифрового контроля и графической регистрации содержит цифро-аналоговые преобразователи для вывода цифровых сигналов на аналоговые графические регистраторы, а также блоки управления цифровыми индикаторами. Последние имеют девять знаков, из них четыре индицируют адрес вызванного параметра, четыре—значение контролируемого параметра и один —• размерность вызванного параметра.

Контроль состояния параметров производится устройством выработки и памяти отклонения УВПО путем сравнения текущих параметров с уставками. Если значение контролируемого параметра находится в поле нормального состояния, то вырабатывается сигнал «норма». При отклонении значения параметра за границы поля нормального состояния вырабатывается сигнал «больше» или «меньше», включаются мигающая световая и звуковая сигнализации, а адрес отклонившегося параметра с указанием знака отклонения передается в вычислительный комплекс,

Состав блоков и их функции определяются видом испытаний, типом моделирующего источника и характеристиками контролируемого параметра. Измерение температуры окружающей среды или корпусов самих изделий следует проводить в случае ожидаемого нарушения температурного режима изделий за счет радиационного разогрева или повышенной температуры в зоне облучения. Блок датчиков должен содержать датчик формы

8.1. Область известных и прогнозируемых значений контролируемого параметра ?(/), где *—допустимая граница изменения параметра.

контролируемого параметра подчиняется нормальному закону, наиболее распространенным является критерий Диксона, при котором вычисляется коэффициент Диксона (табл. 9.1) в зависимости от числа изделий в выборке и от того, проверяется ли наибольшее или наименьшее экстремальное значение. Полученный по приведенным в табл. 9.1 формулам коэффициент Диксона сравнивается с его табличным значением (табл. П7), учитывающим экстремальные значения при заданной достоверности (Р*). Экстремальный выброс значения параметра критерия годности является НС Случайным, а носит закономерный характер, если коэффициент Диксона из табл. 9.1 меньше его значения, приведенного в табл. П7.