Измерения переходных

Мостовые методы- применяются для измерения параметров резисторов, катушек индуктивности и конденсаторов. Для измерения параметров катушек индуктивности и конденсаторов необходимы мосты переменного тока. Для измерения сопротивлений резисторов чаще применяются мосты постоянного тока .

Датчики первичной информации (ДПИ) служат для прямого и косвенного измерения параметров объекта производства (геометрических, размерных, физико-механических, электромагнитных, оптических и др.), до и после их обработки (ДПИ1), положения в пространстве рабочих органов, траекторий их перемеще-

Специфика системы управления качеством продукции на уровнях 1 и 2 ( 17.4) определяет и специфические особенности в организации обратных связей при управлении. На уровне 1 обратная связь организуется на основе измерения параметров (режимов) ТП или отдельных функциональных (геометрических) параметров объекта производства, формируемых на данной технологической операции. На уровне 2 при формировании обратной связи используется система измерения 2 качества продукции, которая формируется рядом технологических операций (ТОУ[... ...ТОУта, ( 17.4), охватываемых системой управления ТП.

Датчики, исполнительные механизмы и интерфейсы АСУ ТП (АСУ ТП). Устройства для непрерывного или прерывистого преобразования параметров (например, избыточного, вакуумметри-ческого и абсолютного давления расхода, уровня, температуры, линейных величин, веса, механических величин), сигналы которых могут быть использованы в технических средствах и системах, называют датчиками. Датчики используют в комплекте со вторичными приборами, регуляторами и другими устройствами автоматики, машинами централизованного контроля и системы управления. По назначению различают следующие виды датчиков. Датчики первичной информации (ДПИ 1) предназначены для измерения следующих параметров объекта производства до и после их поступления на АСТО или его элементы: геометрических параметров деталей и сборочных единиц (линейных размеров, диаметров, допусков и т. д.); физико-механических параметров поверхности деталей и сборочных единиц (шероховатости, степени наклепа и т. д.); единичных показателей назначения, определяющих качество объекта производства до или после обработки (сборки). Датчики ДПИ 2 предназначены для измерения параметров элементов АСТО, положения в пространстве рабочих органов и их элементов, траекторий их перемещения; взаимного положения в пространстве элементов оборудования; наличия инструмента и др.; ДПИ 3 используются для измерения режимов протекания ТП: подачи; точности; скорости обработки (сборки); физико-механических и физико-химических режимов (давления, температуры, степени вакуума).

Процедура контроля качества продукции радиопромышленности по количественному признаку может быть сведена к следующим операциям. Из объема представленной на контроль партии случайным образом выбирается выборка объема п. Каждое изделие в выборке контролируется путем измерения параметров (i/i, . . ., r/t). Число измеряемых параметров определяется требованиями ТУ и рядом дополнительных соображений. В крайнем случае может быть измерен только один наиболее представительный параметр — у. Пусть при измерении параметра у выбранных изделий получены конкретные значения г/ь ... уп. Качество представленных к контролю изделий должно быть признано соответствующим требуемому уровню, если некоторая функция полученных величин Q( •••. Уп) находится в пределах заданной области Q°, т. е.

з) описание методов регулировки и проверки с указанием последовательности проведения операций настройки, положения органов регулировки и методики измерения параметров, рекомендации по обнаружению и устранению неисправностей во время регулировки изделия, сведений по оформлению результатов регулировки в виде карт или протоколов.

10.4. ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КАНАЛООБРАЗУЮЩЕЙ

10.5. ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КАНАЛА ТЧ

10.4. Измерения параметров каналообразующей аппаратуры .... 139

10.5. Измерения параметров канала ТЧ .......... 140

Мосты для измерения параметров конденсаторов: а) при малых углах потерь

и определять тем самым корреляцию между ними. С помощью осциллографов можно, например, осуществлять измерения переходных процессов при разработке полупроводниковых приборов, очень точные измерения фазовых соотношений, непосредственные измерения физических величин, которые могут быть преобразованы в электрические сигналы соответствующими датчиками.

Прибор М-1, разработанный монтажно-наладочным управлением треста «Электроцентрмонтаж» Минэнерго СССР, предназначен для измерения переходных сопротивлений контактов коммутационной аппаратуры с номинальным напряжением до 500 кВ. Питание прибора может осуществляться от сети переменного тока и от встроенных сухих элементов. Прибор снабжается специальными проводами, позволяющими производить измерения контактов с земли вблизи оборудования [1].

3. Включить схему на постоянное напряжение и провести измерения переходных тока в сопротивлении R2 и напряжения на конденсаторе С. Отсчет осуществлять через каждые 5—10 с. Результаты измерений записать в табл. 21.1.

И. Изменяя напряжение на входе цепи от нуля ступенями до максимально возможного, провести измерения переходных напряжения и тока конденсатора (скорость переключения напряжения задается руководителем). Потенциометр Я имеет градуированную шкалу (10 делений).

Электронно-лучевые осциллографы применяются также для измерения напряжения, временных интервалов и длительности сигналов, частоты и фазового сдвига, параметров модулированных сигналов и многих физических величин, преобразованных в электрические сигналы. На базе осциллографа созданы приборы для измерения переходных, частотных и амплитудных характеристик различных электро- и радиотехнических устройств. Широкое распространение электронно-лучевых осциллографов обусловлено возможностью их использования в полосе частот от нуля до десятков гигагерц, в пределах напряжений сигнала от долей милливольта до сотен вольт при длительностях от единиц наносекунд до нескольких секунд.

Логические ИМС -находят широкое применение в измерительной технике. Они дают возможность значительно увеличить число измеряемых параметров и повысить точность измерений, в частности существенно улучшить параметры осциллографов. При отображении цифровых сигналов синхронизация развертки с помощью логической пусковой схемы позволяет получить более стабильные изображения на экране электронно-лучевой трубки, а добавление к осциллографу схемы умножения — отображать на экране произведение двух входных сигналов и определять те;м самым корреляцию между ними. С помощью осциллографов можно, например, осуществлять измерения переходных процессов при разработке полупроводниковых приборов, очень точные измерения фазовых соотношений, непосредственные измерения физических величин, которые могут быть преобразованы в электрические сигналы соответствующими датчиками.

10.3. Схема измерения переходных искажений усилителя

Схема измерения переходных искажений, вносимых усилителем импульсных сигналов, приведена на 10.3. Здесь ГЙС — генератор прямоугольных импульсных сигналов, имеющий внутреннее сопротивление, равное сопротивлению источника сигналов, на работу от которого рассчитан испытуемый усилитель У; ИО — электронный осциллоскоп для измерения переходных искажений, называемый сокращённо импульсным осциллоскопом; ZH — сопротивление, составляющее вместе с входным сопротивлением импульсного осциллоскопа эквивалент сопротивления нагрузки усилителя.

Существуют установки для испытания усилителей импульсных сигналов, содержащие все .необходимые для измерения переходных искажений приборы в одной конструкции (например, измеритель переходных характеристик типа ИПХ-1 и др.).

10.3. Схема измерения переходных искажений усилителя

Схема измерения переходных искажений, вносимых усилителем импульсных сигналов, приведена на 10.3. Здесь ГИС — генератор прямоугольных импульсных сигналов, имеющий внутреннее сопротивление, равное сопротивлению источника сигналов, на работу от которого рассчитан испытуемый усилитель У; ИО — электронный осциллоскоп для измерения переходных искажений, называемый сокращённо импульсным осциллоскопом; Zn — сопротивление, составляющее вместе с входным сопротивлением импульсного осциллоскопа эквивалент сопротивления нагрузки усилителя.