Исследуемого параметра

Для создания линейного масштаба по оси времени х необходимо равномерное перемещение электронного луча по горизонтали, что обеспечивается подачей на горизонтально отклоняющие пластины 7 ЭЛТ линейно нарастающего напряжения развертки ( 7.22, в). Если при этом отсутствует напряжение на вертикально отклоняющих пластинах 6, на экране осциллографа появляется горизонтальная линия. При одновременной подаче исследуемого напряжения ( 1.22,и) на пластины 6 и напряжения развертки на экране осциллографа появляется осциллограмма ( 7.22,6), дающая полное представление о форме, амплитуде, частоте исследуемого напряжения.

В канале х частота генератора развертки недостаточно стабильна. Для получения устойчивого изображения на экране осциллографа необходимо выполнение равенства Tf = nTy, где Тх — период напряжения развертки, Ту — период исследуемого напряжения, и= 1, 2, 3... Это равенство обеспечивается устройством синхронизации, которое «подстраивает» частоту генератора развертки под частоту исследуемого напряжения.

Для отклонения электронного луча в горизонтальном и вертикальном направлениях в трубке есть две пары отклоняющих пластин. Исследуемое периодическое напряжение подается на вертикально отклоняющие пластины, вследствие чего происходит отклонение луча в вертикальном направлении (по оси ординат). Горизонтально отклоняющие пластины необходимы для развертки исследуемого напряжения во времени (по оси абсцисс). Для этого в большинстве случаев на эти пластины подается периодическое пилообразное напряжение.

Генератор развертки создает линейно изменяющееся во времени пилообразное напряжение. Чтобы изображение на экране было неподвижным, синхронизируют периоды напряжения развертки ГР и исследуемого напряжения Ту. Синхронизация наступает только при кратности периодов ТР = kTy, где k — целое число.

Для измерения частоты исследуемого напряжения на вход X (переключатель Я в положении //) подают напряжение от генераторов стандартных сигналов, частота которых устанавливается с определенной точностью.

Точность измерения компенсационным методом на переменном токе значительно ниже, чем на постоянном токе ввиду отсутствия меры переменной э. д. с. В потенциометрах переменного тока рабочий ток устанавливается по показаниям электродинамического амперметра. На точность измерений влияет также форма кривой исследуемого напряжения, поэтому погрешность измерения потенциометрами переменного тока составляет не менее 0,5%.

одновременно с напряжением генератора экране будет наблюдаться кривая ыс (t) — развертка исследуемого напряжения во времени ( 10.2).

Если на вход Y подано исследуемое напряжение uy(t), то координата у светящегося на экране пятна в любой момент времени пропорциональна мгновенному значению исследуемого напряжения:

ния развертки Т ( 6.3) равен периоду исследуемого напряжения uy(t) или в целое число раз больше него.

Обычно БР может работать в двух режимах: непрерывном и ждущем. В режиме непрерывной развертки, предназначенном для исследования только периодических напряжений, пауза t3 отсутствует (?3=0). Регулируя время рабочего хода t\, можно менять период Т и, следовательно, добиваться неподвижности изображения (время обратного хода луча tz не регулируется). Если период Т напряжения развертки в п раз больше периода исследуемого напряжения, а t2
В режиме ждущей развертки момент начала прямого хода луча соответствует определенному уровню (определенному мгновенному значению) исследуемого напряжения. При этом время прямого хода луча t\ можно устанавливать произвольным. После окончания обратного хода луча БР «ждет» (время ?3) ДО тех пор, пока исследуемое напряжение вновь не достигнет уровня запуска. Режим ждущей развертки может применяться при исследовании как периодических, так и непериодических напряжений.

Рассмотренный метод построения статической характеристики позволяет также исследовать влияние колебаний напряжения и частоты питающей сети и параметоов нагрузки на характеристику. Для srroro необходимо на одном графике построить несколько линий нагрузки ( 3.15), соответствуюпих крайним границам изменения исследуемого параметра (соответственно изменяя Вто и Нк).

На вход объекта контроля ОК подается сигнал от источника измерительного сигнала ИИС, а на выходе измеряется значение исследуемого параметра измерительным прибором ИП.

Отклонение л-го значения исследуемого параметра от установившегося значения обозначим Анп- По определению, Дн„ = t/снуст — — Uспп- Запишем ряд значений АНп:

где Хг — молярная доля компонента стекла; Я,— значение исследуемого параметра, например температурного коэффициента расширения, теплопроводности, диэлектрической проницаемости, удельного сопротивления и др.

Отклонение n-го значения исследуемого параметра от установившегося значения обозначим Дип. По определению, Ан/! =

Первый сомножитель в выражении (5.17) определяет известную зависимость часового расхода топлива от исследуемого параметра х; второй — учитывает зависимость общих затрат, направленных на уменьшение вредных выбросов.

Если по данным выборки закон распределения qi может быть приват нормальным, то основные характеристики точности формирования исследуемого параметра находят по методике, приведенной в руководствах по статистической обработке опытных данных [3, 14]. С целью получения достоверных статистических данных о точности

где ц — значение параметра стекла (коэффициента термического расширения, теплопроводности, температуры испарения, плотности и т. п.); PI — молярная доля компонента стекла; fit — значение исследуемого параметра этого компонента.

Методы поисков наивыгоднейших решений могут быть различными [15]. При отыскании наивыгоднейших решений на стадии технико-экономического обоснования ЭТУ и расчете экономически наивыгоднейших параметров и характеристик оборудования можно рекомендовать аналитический метод оптимизации [16], основанный на применении дифференциальных ур-авнений термодинамики и аналитических зависимостей, связывающих между собой параметры процессов с капиталовложениями и текущими расходами по эксплуатации, при заданных режимах работы и надежности энергоснабжения. Сокращенно метод называют дифференциальным, поскольку его сущность состоит в определении величин приращений затрат, вызванных изменением исследуемого параметра процесса, размеров поверхностей нагрева, температурных напоров и других характеристик оборудования, связанных между собой реальными зависимостями. Наивыгоднейшими считаются такие значения взаимосвязанных параметров или характеристик, при которых суммарная величина приведенных .затрат в энергосистеме оказывается наименьшей.

Оптическое сканирование заключается в том, что с целью получения электрического сигнала, мгновенные значения которого пропорциональны значениям исследуемого параметра поля (яркость, температура), производится последовательный просмотр поля или его изображения. Как следует из этого определения, сканирующие системы могут включать в себя и оптические элементы, создающие изображение, и приемник лучистой энергии, создающий электрический сигнал. Поэтому иногда под термином «оптическая сканирующая система» понимают весь оптико-электронный прибор, используемый для анализа поля зрения. Этому способствует тот факт, что в некоторых приборах сканирование

производится путем управления каким-либо параметром оптической системы или приемника, т. е. без ввода дополнительных узлов. Примеры подобного рода систем будут приведены ниже. Однако это не всегда правильно, так как в большинстве случаев оптико-электронный прибор может выполнять свои функции и без ввода специальных сканирующих узлов, и лишь необходимость просмотра узким полем зрения такого прибора широкого поля обзора приводит к использованию принципа сканирования. В оптико-электронных приборах с узким полем зрения также может производиться анализ поля, но только того, которым обладает его оптическая система. Анализ этот производится обычно путем деления поля зрения на элементарные поля с последовательным или одновременным получением электрических сигналов, соответствующих мгновенным значениям исследуемого параметра в элементарных полях. Устройства, осущест-вляющие такой анализ поля, называют анализаторами. По своей конструкции они обычно гораздо проще сканирующих систем. Примером анализатора является разделительный (светоделительный) блок в виде прямоугольной призмы, помещаемый в фокальную плоскость объектива и позволяющий сравнить количество лучистой энергии, приходящееся на каждую из половин поля зрения прибора.