Движущейся относительно

ских аппаратов. С помощью электромагнитных сил осуществляется управление движением заряженных частиц в электронно-лучевых трубках, электронных микроскопах, ускорителях заряженных частиц.

Магнитное поле обнаруживается в пространстве, окружающем движущиеся заряженные частицы, с которыми это поле связано. В проводнике и пространстве вокруг него магнитное поле обусловлено этим током, а внутри и вокруг намагниченного тела — внутриатомным и внутримолекулярным движением заряженных частиц (например, вращением электронов вокруг своих осей и вокруг ядра атома).

Управление движением заряженных частиц. Посредством электрических и магнитных полей можно управлять движением электрически заряженных частиц, которыми могут быть ионы, электроны, протоны и другие материальные частицы, несущие электрические заряды. При помощи сил воздействия электрического поля производится управление пучком электронов в электронных осциллографах, в электронных микроскопах и ряде других современных электронных приборов. Путем изменения электрического и магнит-

— движением заряженных частиц 168

Силы, возникающие в этих полях, используются для создания не только преобразователей энергии, но и измерительных приборов различных систем, а также служат для управления движением заряженных частиц, что широко используется в различных электротехнических устройствах — электронных осциллографах, различных вакуумных и ионных приборах, ускорителях различных систем, установках для нанесения различных покрытий, а также в новых прямых преобразователях тепловой энергии в электрическую.

Этот ток рассматривается как ток проводимости в проводниках, присоединенных к емкостному элементу (ток, обусловленный .движением заряженных частиц под .действием электрического поля в веществе, обладающем электропроводностью), переходящий в ток смещения1 в диэлектрике емкостного элемента. Последнее понятие, применяемое в теории поля, означает величину, прямо пропорциональную скорости изменения напряженности электрического поля

Этот ток рассматривается как ток проводимости в проводниках, присоединенных к емкостному элементу (ток, обусловленный движением заряженных частиц под действием электрического поля в веществе, обладающем электропроводностью), переходящий в ток смещения1 в диэлектрике емкостного элемента. Последнее понятие, применяемое в теории поля, означает величину, прямо пропорциональную скорости изменения напряженности электрического поля (в случае однородного поля и г — const.)

Управление движением заряженных частиц. Посредством электрических и магнитных полей можно управлять движением электрически заряженных частиц, которыми могут быть ионы,

ских аппаратов. С помощью электромагнитных сил осуществляется управление движением заряженных частиц в электронно-лучевых трубках, электронных микроскопах, ускорителях заряженных частиц.

Электропроводность технических диэлектриков и изоляционных конструкций носит, как правило, примесный характер, т. е. обусловлена движением свободных ионов, образующихся при диссоциации примесей, или движением заряженных коллоидных частиц (в жидкостях). С ростом температуры подвижность заряженных частиц растет, поэтому увеличивается и электропроводность. Зависимость

Электротехника — наука о практическом использовании физических явлений, связанных с движением заряженных частиц. Очевидно, что полное представление об этих явлениях можно получить при рассмотрении движения частиц в микромире и целых систем — тел, которые состоят из этих частиц. Рассмотрение явлений в масштабах систем, в которых данное явление есть результат действия огромного числа частиц, называется макроскопическим.

Температурный перепад на охлаждаемой поверхности может быть определен по (5-1). Коэффициент теплоотдачи поверхности ^п определяют экспериментально на моделях. Чтобы экспериментальные данные можно было использовать для широкого класса охлаждаемых поверхностей, их обычно выражают с помощью, безразмерных чисел (критериев). Одним из них является число Нуссельта Nu, которое связывает коэффициент теплоотдачи ап нагретой поверхности с коэффициентом теплопроводности К охлаждающей среды, движущейся относительно этой поверхности:

X — теплопроводность охлаждающей среды, движущейся относительно рассматриваемой стенки.

Температурный перепад на охлаждаемой поверхности может быть определен по (5-1). Коэффициент теплоотдачи поверхности Яп определяют экспериментально на моделях. Чтобы экспериментальные -данные можно было использовать для широкого класса охлаждаемых поверхностей, их обычно выражают с помощью безразмерных чисел (критериев). Одним из них является число Нуссельта Nu, которое связывает коэффициент теплоотдачи ап нагретой поверхности с коэффициентом теплопроводности Я, охлаждающей среды, движущейся относительно этой поверхности:

Число Нуссельта связывает коэффициент теплотдачи а нагретой стенки канала с коэффициентом теплопроводности К охлаждающей среды, движущейся относительно этой стенки. Величина d в (5-19) является определяющим размером, характеризующим геометрию исследуемой поверхности.

где a — коэффициент теплоотдачи; d— характерный линейный размер; А, — теплопроводность охлаждающей среды, движущейся относительно рассматриваемой стенки.

Источники питания вырезных станков. Вырезные работы осуществляются используемой в качестве электрода латунной, медной или вольфрамовой проволочкой диаметром 0,02—0,3 мм, натянутой между двумя роликами и движущейся относительно заготовки. Между проволочкой, поливаемой рабочей жидкостью, и деталью возбуждаются кратковременные — от долей микросекунды до 5—8 мкс —

305. Если в системе отсчета /G имеется только магнитное поле, то в системе К, движущейся относительно ATi, появляется еще и электрическое поле.

307. Если в системе Ki имеется только электрическое поле, то в системе К, движущейся относительно К\, существует еще магнитное поле.

Истинная сущность этого явления опять заключается в законах преобразования электромагнитного поля при движении системы отсчета (§ 155). Чтобы сделать рассуждения наиболее ясными, заменим вращательное движение поступательным и представим себе бесконечную равномерно намагниченную ленту, движущуюся с постоянной скоростью V вдоль оси X ( 311). В системе отсчета, связанной с магнитом (Ki), мы имеем только магнитное поле. Но в системе отсчета (К), связанной с контуром aVe, движущейся относительно магнита со скоростью —V, появляется электрическое поле, которое и вызывает индукционный ток.

Они выражают поле в системе AT, движущейся относительно Afi со скоростью v. Но согласно принципу относительности мы с таким же правом можем считать, что система Ал движется относительно системы AT со скоростью — », и исходить в своих рассуждениях из полей Е и Н в системе А". Мы должны были бы получить те же формулы (158.1), только с измененным знаком у скорости v.

Они позволяют найти электромагнитное поле ? и Я в системе отсчета К, движущейся относительно другой системы К\ в направлении положительной оси Xi со скоростью v, если известно электромагнитное поле EI и Hi в системе отсчета АГь Позднее эти формулы были строго обоснованы как следствие принципа относительности в теории относительности Эйнштейна.