Дополнительной погрешности

Изготовление магнитопластов (металлопластические магниты) основано на прессовании металлических порошков, смешанных со связующим веществом. Если к металлическому порошку сплава, например, системы железо — никель — алюминий — кобальт добавить около 5% массовой доли фенолформальдегидной смолы и прессовать смесь под давлением около 500 МПа при температуре 433... 453 К, то можно получить магниты различной конфигурации с погрешностью размеров ±0,4 мм при диаметре 15...20 мм. Магнито-пласты обладают высоким электрическим сопротивлением, легко армируются при прессовании. Однако они обладают остаточной индукцией на 35...40% и магнитной энергией на 30...50% меньше, чем литые магниты. Металлопластические магниты коррозиестойки и практически не требуют дополнительной обработки.

Дифференциальное уравнение (15.1) несложно решить на АВМ и на ЦВМ. Недостаток АВМ в том, что они дают решение в виде осциллограмм, требующих дополнительной обработки, поэтому ЦВМ наиболее перспективны для расчетов коммутации. Точность решения зависит от того, как полно представлена физическая сторона процесса в алгоритме решения. ЦВМ позволяют учесть в расчетах не только нелинейность сопротивлений rl ц гг, но и особенности вольт-амперных характеристик анодных и катодных щеток. При первых решениях на ЦВМ использовались статические характеристики щеточного контакта [10], но при этом не учитывалось различие в работе набегающего и сбегающего краев щетки. Кроме того, использование статических характеристик неправомерно для расчета коммутации машин постоянного тока, работающих в таких переходных режимах, как пуск, реверсы, изменение частоты вращения и т. д. В настоящее время широко исследуется возможность применения в расчетах динамических вольт-амперных характеристик щеток.

Обозначение покрытий на чертежах включает в себя способ получения покрытия, материал покрытия, его толщину, выраженную в мкм, вид дополнительной обработки. Например: 1) кадмиевое толщиной 6 мкм, полученное методом катодного восстановления (Кдб); 2) цинковое толщиной 3 мкм, полученное методом катодного восстановления с дополнительным фосфатированием (ЦЗ-фос); 3) никелевое толщиной 9 мкм, полученное химическим способом, (хим. Н9).

Производимые на предприятии или поступающие со стороны основные материалы полупроводникового производства (поликристаллические полупроводники, металлы и неметаллы) перед употреблением разделывают, очищают от поверхностных загрязнений и взвешивают. Каждая из этих операций связана с неизбежным загрязнением перерабатываемого материала. Поэтому желательно получать исходные полупроводники и чистые вещества в такой форме и такой массы, которые позволяют использовать их непосредственно' после извлечения из упаковки без какой-либо дополнительной обработки. Подготовленные таким образом мате-

В свою очередь АСДУ энергосистемы на базе полученной со станций информации формирует собственный поток отчетных данных, передаваемых как на верхние уровни диспетчерского управления, так и в другие подсистемы отраслевой автоматизированной системы управления. Важной особенностью отчетной, а более точно — обменной информации АСДУ энергосистемы является наличие в ней не только измеряемых показателей, характеризующих состояние объекта, но и ряда статистических оценок, которые без дополнительной обработки могут быть использованы на верхних уровнях АСДУ для коррекции критериев, по которым осуществляется координация или, в частном случае, управление работой энергосистем. В состав этих статистических оценок могут входить показатели аварийности оборудования, эквивалентные характеристики надежности и экономичности отдельных групп элементов энергосистем, оценки эффективности ведения режимов и оправдываемое™ прогнозов вероятностной и неопределенной информации.

принимаются: допуски на изготовление активных элементов, в частности, на разброс координат краев зубцов, на эллиптичность расточки статора и ротора, допустимые биения ротора и эксцентриситет расточки статора относителньо оси вращения ротора, а также статистические данные о законах распределения разбросов как по геометрическим величинам, так и по неравномерности магнитных свойств в пределах одного листа магнито-провода; данные о способах сборки пакетов магнитопровода (способы скоса пазов, сборки на «скалке», наличие и число «вееров» и т. п.); данные о способах дополнительной обработки поверхностей зубцовой зоны со стороны воздушного зазора; электрические параметры обмоток и нагрузки; схема включения (внутренние соединения и внешние элементы);

В общем случае структуру технологического процесса изготовления штампованных деталей РЭА можно представить следующими этапами: заготовительным, штамповочным, дополнительной обработки. В отдельных случаях этап дополнительной обработки может отсутствовать.

Этап дополнительной обработки штампованной детали осуществляют для формирования физических свойств деталей методами, не относящимися к ОД. Так, сварка и пайка отдельных стыков крышек и корпусов повышает их жесткость или обеспечивает герметичность; термическая обработка пластин магнитопроводов восстанавливает нарушенные при штамповке исходные магнитные свойства материала; обработка резанием обеспечивает точность размеров, выше предельно возможных при выполнении переходов ОД; нанесение покрытий повышает стойкость деталей РЭА к вредному воздействию атмосферы или другой среды, в которых эксплуатируются детали РЭА.

Этап дополнительной обработки штампованного корпуса •состоит из операций: подготовки поверхности под сварку — обезжиривание и травление мест сварки; сварки стыков элементов детали; термической обработки •— отжига для улучшения качества сварных швов и снятия внутренних напряжений в материале корпуса; контроля качества сварки; обработки резанием — фрезерование прямоугольных окон в размер и расточки монтажных отверстий большого диаметра; удаления заусенцев; контроля выполненных резанием размеров; подготовки поверхностей под покрытие — обезжиривание и травление с промывкой, сушка; нанесения покрытия химическим методом; окончательного контроля.

5) способы дополнительной обработки поверхностей 4 без покрытий: на агрегатном сверлильно-расточном станке (С5г), на расточном станке с ручным управлением (С52), на сверлильно-расточном станке с ЧПУ (С53), вручную (С54).

Для обозначения вида покрытия и краткой его характеристики в конструкторской и технологической документации принята буквенно-цифровая система: для металлических покрытий буквы указывают металл покрытия, цифра после буквы — его толщину в микрометрах и буквы в конце шифра — дополнительные характеристики покрытия или характер дополнительной обработки (например, МЗО.Н18.Х.6 — трехслойное покрытие в микрометрах: медь — 30, никель — 18, хром — 1, б — блестящее; Ц18. хр — цинковые покрытие толщиной 18 мкм с хроматной пассивацией); в шифрах химических покрытий буквы указывают метод получения и характер дополнительной обработки (например, Хим. Оке. лкп — окисное покрытие, нанесенное химическим способом с дополнительным лакокрасочным покрытием; Ли. Оке. черн.— окисное покрытие, нанесенное анодизационным способом, окрашенное в черный цвет).

Предел допускаемой дополнительной погрешности — наибольшая дополнительная погрешность (изменение показаний), вызываемая изменением влияющей величины в пределах расширенной области, при которой средство измерения может быть допущено к применению.

Расширенная область — область значений влияющей величины, устанавливаемая в стандартах на средства измерений, в пределах которой значение дополнительной погрешности (изменение показаний) не должно превышать установленных пределов.

7 с при дополнительной погрешности по 3% tcv.

де:^иямг:., необходимыми для зычисления дополнительной погрешности, являются мормируем)де метрологические характеристики средства измерений:

которая, в свою очередь, определяется допускаемой степенью риска up л принятии решения по результатам измерения [56]. Расчет статистических моментов погрешности. Для линейных функций влияния фо.ном (\3) = &с. ном (ij — ?HOpMj) (где &с. юм ) — номинальный коэффициент влияния /-го влияющего фактора ка систематическую погрешность СИ; ^норм/ — нормальное значение влияющего фактора) значения математического ожидания и дисперсии дополнительной погрешности могут быть найдены из соотношений

Если функция влияния нелинейна, то статистические характеристики дополнительной погрешности могут быть найдены по превилам нахождения статистических характеристик функционально преобразованных случайных величин. В этом случае значения М [хзс. ном (^) 1 и ст2 Не, ном (У] могут бьпъ определены из формул

Приближенные значения этих составляющих дополнительной погрешности могут быть в соответствии с РД 50-453 — 80 определены следующим образом:

Метрологические характеристики дополнительной погрешности при этом могут быть вычислены по приведенным ссотноше-

Дополнительная погрешность является функцией влияющих величин и неинформативных партметров входных сигналов. Для СИ эта функция может иметь определенный вид или при одинаковом виде различные значения параметров функции. Эту функцию принято называть функцией гш янпя. У всех экземпляров СИ дачного типа функции влияния должны быть подобны вследствие одинакового принципа действия этих СИ, л параметры функции влчяния различных экземпляров СИ данного типа должны быть бл !зки между собой. Поэтому в качестве основной характеристики дополнительной погрешности в настоящее время принимается некоторая средняя для СИ данного типа функция влияния и некоторые средние значения ее параметров. Такая функция влияния называется номинальной функцией влияния и обозначается 'Фичм (!)» где -—• влияющий фактор. Для контроля этой метрологической характеристики СИ также нормируются пределы допускаемых отклонений функции i лшшня <У> ее поминального значения. В этих пределах должны находиться функции влияния асех экземпляров СИ ланною типа. Эю можло установить при контроле СИ.

Очевидно, что изменение систематической погрешности под влиянием случайного фактора ?;г приведет к появлению некоторой случайной составляющей систематической погрешности и математического ожидания из-за наличия этих составляющих у фактора ?г. Это будет математическое ожидание т [Дд] и среднее квадратическое отклонение а ДД] дополнительной погрешности. Эти числовые характеристики дополнительной погрешности ложно найти по правилам нахождения числовых характеристик функционально преобразованных случайных величин [77].

В табл. 10.2 приведены нормируемые метрологические характеристики дополнительной погрешности для различных моделей погрешности и типов средств измерений.